Senacyt realiza taller para gestión de propiedad intelectual

Fue dirigido a expertos en metrología del Centro Nacional de Metrología de Panamá para fortalecer al equipo con respecto al tema y su uso.

La Secretaría Nacional de Ciencia, Tecnología e Innovación (SENACYT), a través de la Dirección de Investigación y Desarrollo (I+D), y en colaboración con la Universidad Tecnológica de Panamá (UTP), realizaron el taller “Facilidades para la Gestión de la Propiedad Intelectual en Panamá”. Este evento, realizado en las instalaciones de la SENACYT, fue dirigido a expertos en metrología del Centro Nacional de Metrología de Panamá (CENAMEP AIP) con el fin de fortalecer al equipo en conceptos básicos de propiedad intelectual y su uso en una sociedad orientada a la innovación. El taller “Facilidades para la Gestión de la Propiedad Intelectual en Panamá” es una iniciativa de la SENACYT para fortalecer uno de los principales indicadores del Plan Estratégico Nacional de Ciencia, Tecnología e Innovación (PENCYT) 2015-2019, el cual busca incrementar las aplicaciones de registro de patentes en los próximos años. Este evento tuvo como objetivo principal potenciar las capacidades en gestión de la propiedad intelectual y el uso y el aprovechamiento de las diferentes fuentes de información tecnológica en materia de patentes. Además, este taller promueve la adecuada apropiación de los resultados de las actividades de investigación y desarrollo en el área de Metrología. En este taller se contó con la ponencia del Ing. Aníbal Fossati Carrillo, Coordinador de la Unidad de Propiedad Intelectual de la Universidad Tecnológica de Panamá y Secretario Permanente de la Red de Propiedad Intelectual e Industria en Latinoamérica (Red PILA), y el Ing. Francisco García, Subdirector de Investigación y Desarrollo (I+D) de SENACYT. El Ing. Francisco García, Subdirector de I+D de SENACYT, inauguró el taller explicando la importancia de éste para los metrólogos de CENAMEP AIP: “Al ser un tema poco abordado en la formación regular de los ingenieros y tecnólogos a nivel nacional, este taller permitirá a los metrólogos identificar qué productos tecnológicos ameritan una protección intelectual. A la vez los metrólogos tendrán nuevas herramientas para obtener información tecnológica de punta que ofrecen las bases de datos mundiales de patentes existentes.” Durante el evento se presentaron los siguientes temas: ¿Qué es la Propiedad Intelectual (PI) y cuántos activos de PI se puede generar en el sistema de Propiedad Intelectual?, Identificación de Activos de Propiedad Intelectual, El Sistema de Patentes en Panamá, entre otros. Adicionalmente, se desarrollaron sesiones de discusión donde tanto los expositores como los participantes pudieron intercambiar sus experiencias y opiniones en el uso del Sistema de Propiedad Industrial en las Universidades y los Centros de Investigación.